竹下世界塔の計算機よもやま話

アクセスカウンタ

zoom RSS テープアウト後

<<   作成日時 : 2009/04/08 02:55   >>

ブログ気持玉 0 / トラックバック 0 / コメント 0

 設計データをテープアウトして試作のチップが入手できるまで一ヶ月ぐらいだが、その間設計者は暇かというとそうではない。チップのテストパターンを作成しなければならない。
 テストパターンは、チップ内のロジックが0,1とちゃんと変化することを確認するために作成する。このパターンは半導体テスタに入力され、実チップがテストされる。
 テストパターンのほとんどは自動で作成できるが、なかなか自動では洗えない場所も存在する。そこで該当モジュールを担当した設計者がテストパターンに手を入れてテストカバレッジ範囲を広げる。
 半導体のテストはI/OとFFの操作で行われる。これらの値が変化することにより組み合わせ論理回路の入出力が変化し、FFの入力またはI/Oの出力に結果が保存される。I/Oマクロもテストとバウンダリスキャンのために内部にFFを持っている。これらと内部FFがスキャンチェーンで数珠つなぎになっており、JTAGコントローラで値を読み書きされる。
 半導体テスタは数十MHz〜数百MHzの速度でテストパターンを流し、結果が期待値と異なっていればそのチップを製造不良とみなす。できるだけ少ないテストパターンでより多い範囲をテストしないとコストがかかってしまう。

 最近の問題は、実際のチップが例えば3GHzで動作するのに半導体テスタの速度はそれよりも一桁以上遅く、遅い速度でパスしても実際に高速なクロックで動作させると不良が発生するというものだ。
 こうなると実際の歩留まりは、計算機システムに組み込んだ状態でテストプログラムを走らせてパスするかどうかを含めて考えなければならない。実機テストといって計算機のボードにソケットを組み込み、ROMでテストプログラムを走らせる装置を用意する。これで動作周波数の上限を調べ、実チップのランク付けをする。こうやって同一の生産工程でもグレードの異なるチップが出来上がり、それぞれ計算機の上位から下位機種に搭載されることとなる。安定して良い品質のチップが採れるようになるまで半導体工場では色々なパラメータをいじったり添加物を加えたりするのだ。

JTAGの書籍はいまだにこれだけ
JTAGテストの基礎と応用―新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例 (エッセンス・シリーズ)JTAGテストの基礎と応用―新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例 (エッセンス・シリーズ)
坂巻 佳寿美

CQ出版 1998-11
売り上げランキング : 413728

Amazonで詳しく見る
by G-Tools


テーマ

関連テーマ 一覧


月別リンク

ブログ気持玉

クリックして気持ちを伝えよう!
ログインしてクリックすれば、自分のブログへのリンクが付きます。
→ログインへ

トラックバック(0件)

タイトル (本文) ブログ名/日時

トラックバック用URL help


自分のブログにトラックバック記事作成(会員用) help

タイトル
本 文

コメント(0件)

内 容 ニックネーム/日時

コメントする help

ニックネーム
本 文




テープアウト後 竹下世界塔の計算機よもやま話/BIGLOBEウェブリブログ
文字サイズ:       閉じる